Diseño y desarrollo de un controlador de temperatura para un horno de pruebas

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dc.contributor.authorNieves, Carlos A.
dc.date.accessioned2022-04-18T14:08:16Z
dc.date.available2022-04-18T14:08:16Z
dc.date.issued1994-12
dc.descriptionVolumen 4, Número 2, Diciembre 1994en_US
dc.description.abstractDesign and development of a temperature controller for a test oven As a part of quality control process, the electronics industry must make different tests to electronic components. One of these tests allows us to determine a possible fault when a component is subjected to temperature changes and when it is maintained at a high temperature for a long time interval. The heat up time and the cool down time are significant in these tests. This paper explains the design of an instrument to control the temperature in a test oven used in this kind of process in the electronics industry.en_US
dc.identifier.citationNieves, C. A. (1994). Diseño y desarrollo de un controlador de temperatura para un horno de pruebas, Revista de la Universidad Politécnica de Puerto Rico, 4(2), 235- 250.en_US
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/20.500.12475/1455
dc.language.isoesen_US
dc.publisherPolytechnic University of Puerto Ricoen_US
dc.relation.haspartSan Juanen_US
dc.relation.ispartofRevista de la Universidad Politécnica de Puerto Rico;
dc.rights.holderEsta Junta Editorial y la Universidad Politécnica de Puerto Rico hacen constar y reconoce que los autores de los artículos, obras literarias y artísticas publicadas en esta Revista Politechnê, se reservan enteramente los derechos de autor y de publicación de los mismos para los efectos de cualquier ventualidad literaria, publicitaria o de cualquier índole.en_US
dc.rights.licenseAll rights reserveden_US
dc.subject.lcshElectronic industriesen_US
dc.subject.lcshPolytechnic University of Puerto Rico--Undergraduates--Researchen_US
dc.subject.lcshTemperature control
dc.titleDiseño y desarrollo de un controlador de temperatura para un horno de pruebasen_US
dc.typeArticleen_US

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